Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН

ФТИ РАН
Российская академия наук.

   194021 С.-Петербург
   Политехническая 26.
   Тел.: (812) 241-91-45
   Факс: (812) 247-10-17
   E-mail: zhores.alferov@pop.ioffe.rssi.ru
   Web. http://www.ioffe.rssi.ru

Один из крупнейших российских исследовательских институтов - Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе организован в 1918 году. В течение нескольких десятилетий его директором неизменно был Абрам Федорович Иоффе, создавший блестящую школу российских физиков. В настоящее время директор ФТИ - академик Жорес Иванович Алферов, лауреат Нобелевской премии по физике. В структуру института входят 5 подразделений:

  • центр физики наногетероструктур;
  • отделение твердотельной электроники;
  • отделение физики твердого тела;
  • отделение физики плазмы, атомной физики и астрономии;
  • отделение физики диэлектриков и полупроводников.
  • Исследования по сверхпроводимости проводятся с 1953 года. В настоящее время в работах по сверхпроводимости задействовано 40 человек, из них - 7 докторов наук, 10 кандидатов, 15 научных работников, 8 инженеров. Общая производственная площадь - 450 м 2, имеется - 4 установки эпитаксии сверхпроводящих пленок, 2 установки ионно-плазменного травления, 15 методик характеризации структурных, оптических, электрофизических свойств пленочных и объемных сверхпроводников.

    Основные направления исследований:

    1. технология тонких пленок для болометров, СВЧ техники, микроэлектроники;
    2. диагностика структуры, оптических и электрофизических свойств;
    3. природа нестабильности дефектной подсистемы и ее влияние на время жизни образцов, интенсивность шума.

    АДМИНИСТРАЦИЯ, ПОДРАЗДЕЛЕНИЯ
    И ВЕДУЩИЕ СПЕЦИАЛИСТЫ

    Лаборатория квантоворазмерных гетероструктур.

    Директор - академик РАН Алферов Жорес Иванович.

                        Тел.: (812) 247-21-45
                        zhores.alferov@pop.ioffe.rssi.ru

    Сектор теоретических основ микроэлектроники.

    Заведующий сектором - член-корр. РАН Сурис Роберт Арнольдович.

                        Тел.: (812) 24793-67
                        suris@theory.ioffe.rssi.ru

    Отдел сильноточной полупроводниковой электроники.

    Директор отделения, заведующий отделом - член-корр. РАН Грехов Игорь Всеволодович

                        Тел.: (812) 247-93-98
                        Mega@pulse.ioffe.ru

    Лаборатория диагностики материалов и структур твердотельной электроники

    ФИО Ученая степень Должность Контакты - Тел. (812)…E-mail
    Конников Семен Григорьевич Д.ф.м.н. Заведующий лабораторией

    247 9968
    Konnikov@mail.ioffe.ru

    Трушин Юрий Владимирович Д.ф.м.н. в.н.с.

    247 9147
    Trushin@theory.ioffe.rssi.ru

    Цэндин Константин Дандинсурунович Д.ф.м.н. в.н.с.

    247 9982
    Tsendin@pop.ioffe.rssi.ru

    Бобыль Александр Васильевич Д.ф.м.н. в.н.с.

    247 9328
    Bobyl@theory.ioffe.ru

    Мелех Бернард Али Талибович Д.ф.м.н. в.н.с.

    247 9393
    Melekh@gvg.ioffe.ru

    КООПЕРАЦИИ

    ФТИ РАН
    (С. Петербург)

    ГОИ (С.-Петербург) Создание технологии малошумящих и высокостабильных
    сверхпроводящих пленок для болометров, СВЧ техники.

    Исследования сверхпроводящих пленок в импульсном
    токонесущем состоянии.

    Разработка модели критического состояния в
    сильноточных режимах, близких к критическим.

    СПбГПУ (С.-Петербург)
    СпбЭТУ (С.-Петербург)
    Университет (Осло, Финляндия)
    Университет (Ванкувер, Канада) Теория радиационных процессов в многокомпонентных материалах.
    Университет (Вена, Австрия) Радиационные воздействия на ВТСП.

    ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЕ ОБОРУДОВАНИЕ И
    ДИАГНОСТИЧЕСКАЯ АППАРАТУРА

    Год приобретения

    1988 г.

                Высокотемпературные печи для отжига мишеней (КО-14, СДО-52).
                        Отжиги до 1350°С

                Рентгеноспектральный микроанализатор («Comebax»).
                        Разрешение 1-3 мкм
                        Встроенный спектрометр
                        Энергии электронов 13-15 кэВ
                        Ток 1-100 нА.

                Просвечивающий электронный микроскоп («Philips» EM 420).
                        Ускоряющее напряжение 120 кэВ

    1989 г.

                Установка лазерного распыления керамических мишеней в двух скрещенных пучках твердотельных АИГ лазеров (ЛТИ-205).
                           Позволяет осаждать из плазменного факела пленки материала мишени толщиной 3-200 нм.

    1990 г.

                Модернизированная вакуумная установка для распыления металлов (ВУП-5).
                            Изготовление металлических контактов к ВТСП пленкам

                Шаровая мельница (КМ-1) для измельчения керамических мишеней.

                Гидравлический пресс для прессования керамических мишеней.
                            Усилие до 40 тонн
                Сканирующий электронный микроскоп («Camscan» 4- 88-DV-100).
                            Ускоряющее напряжение до 40 кэВ

                Рентгенодифрактометр («Regaku» D-Max-B/RC).
                            Параметры трубки 200 кВ, 60 мА

    1996 г.

                Измерительная установка на основе He криостата замкнутого цикла, ССС1100.
                            Измерения температурной зависимости сопротивления и ВАХ слоев в температурном диапазоне Т=20-350 К

     

    РЕЗУЛЬТАТЫ НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ
    ЗА ПОСЛЕДНИЕ 5 ЛЕТ

    Результаты научных исследований ученых института в области сверхпроводимости за последние 5 лет опубликованы в более 30 статьях.
    Ниже представлена библиография публикаций за 2000-2002 г.г.

    A.V.Bobyl, D.V.Shantsev, T.H.Johansen, M.Baziljevich, Yu.M.Galperin.
            Temperature dependence of filament-coupling in Bi-tapes: magneto-optical study.
                     Supercond. Sci. Tehnol. 2000, 13, p. 183-186


    S.F. Karmanenko, A.A. Semenov, V.N.Leonov, A.V.Bobyl, A.I.Dedoborez, A.V.Lunev, A.V. Nashekin, R.A.Suris.
            Sources of flicker noise and the technology of superconducting microstripes based on YBaCuO films.
                    Tech.Phys. 2000, pp. 443-452


    S.F. Karmanenko, A.A. Semenov, I.A.Khrebtov, V.N.Leonov, T.H.Johansen, Yu.M.Galperin, A.V.Bobyl, A.I.Dedoborez,
    M.E.Gaevski, A.V.Lunev, R.A.Suris.

            Fabrication process and noise properties of antenna-coupled microbolometers based on superconducting YBaCuO films.
                    Supercond.Sci.Technol. 2000, 13, pp. 273-286


    V.V. Tretykov, S.V. Kazakov, A.V. Bobyl, S.G. Konnikov.
            Study of thin film of high temperature superconductors based on YBaCuO by electron probe microanalysis (EPMA).
                    Microchim.Acta. 2000, 132 , pp. 365-375


    D.V. Kulikov, Yu.V. Trushin, F.M. Sauerzopf, M. Zehetmayer, H.W. Weber.
            Changes in the transition temperature after irradiation and annealing in single crystalline YbaCuO.
                    Physica C, 2001, p.245-250


    D.V.Shantsev, A.V. Bobyl, Y.M. Galperin, T.H.Johansen.
            Comparison of two methods for analysis of vortex motion: Flux creep versus nonlinear current-voltage curve approach.
                    Physica C, 2000, 341-348, p.1145-1146


    A.A. Semenov, S.F. Karmanenko, A.A. Melkov, A.V. Bobyl, R.A. Suris, Yu.M. Galperin, T.H. Johansen
            The propagation of magnetostatic surface waves in ferrite/superconductor structures.
                    Tech.Phys. 2001, 46, p. 1218-1224


    A.V. Bobyl, D.V.Shantsev, Y.M. Galperin, T.H.Johansen.
            Symmetry of magnetic flux distribution in superconducting thin strips: Probe of the critical state
                    Phys.Rev. B, 2001, 63, p. 184510


    A.V. Bobyl, D.V. Shantsev, T.H. Johansen, W.N. Kang, H.J. Kim , E.M. Choi, S.I. Lee.
            Current-induced Dendritic Magnetic Instability in Superconducting MgB2 Films.
                    Appl.Phys.Lett. 2002, 80, pp.4588-4590


    M. Bazilevich, A.V. Bobyl, D.V. Shantsev, E. Altshuler, T.H. Johansen, S.I. Lee.
    Origin or dendritic flux patterns in MgB2 films.
    Physica C. 2002, 369, p. 93-96


    A.V. Bobyl, D.V.Shantsev, Y.M. Galperin, T.H.Johansen.
    High-temperature superconductor strip with transport current: Magnet-optical study of current distribution and its relaxation.
    Supercond. Sci. Tehnol. 2002, 15, p. 82-89.