Федеральное государственное унитарное предприятие Государственный научный центр Российской Федерации Научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова

105064 Москва, ул.Воронцово поле, 10
Тел.: (095) 917-32-57
Факс (095) 975-24-50
e-mail: Simonov@cc.nifhi.ac.ru
http://nifhi.ac.ru

ИФХИ им.Л.Я.Карпова учрежден в 1918 году. Его численность вместе с Обнинским филиалом и дочерним предприятием - Центром высоких технологий в Очакове составляет 2000 человек. Институт укомплектован современным оборудованием для синтеза керамики, пленок, характеризации и диагностики свойств высокотемпературных сверхпроводящих материалов. Исследования по ВТСП проблемам начались в 1986. В настоящее время в исследованиях заняты 7 сотрудников (из них научных работников и инженеров - 7, кандидатов и докторов наук - 5). Под ВТСП исследования выделена служебная и производственная площадь (150 кв.м), приобретено свыше 15 единиц современного технологического и измерительного оборудования.

Основные направления научной деятельности в области ВТСП:

синтез пленок и керамики ВТСП,

физико-химия пленок и керамики ВТСП,

разработка новых подходов к диагностике ВТСП – локальные высокочувствительные методы диагностики.

Лаборатория физико-химии и диагностики пленок

Томашпольский Юрий Яковлевич, проф., д.ф.м.н., заместитель генерального директора, заведующий лабораторией
Тел.: (095) 917 17 27, 917 50 76 д. 1-12
tomash@cc.nifhi.ac.ru

Садовская Наталия Владимировна, к.ф.-м.н., с.н.с., ведущий научный сотрудник
Тел.: (095) 917 50 76 д. 1-13
sadovska@cc.nifhi.ac.ru

Голикова Юлия Викторовна, sadovska@cc.nifhi.ac.ru
Тел.: (095) 917 50 76 д. 1-11

Прутченко Сергей Григорьевич, ведущий инженер
Тел.: (095) 917 50 76 д.1-12

Лаборатория металлокомплексного катализа

Рыбакова Людмила Федоровна, к.х.н., ведущий научный сотрудник
Тел.: (095) 916 17 19 д.1-18

Лаборатория оксидных материалов

Политова Екатерина Дмитриевна, д.ф.-м.н., заведующая лабораторией
Тел.: (095) 917 39 03 д.1-23
politova@cc.nifhi.ac.ru

Калева Галина Михайловна, к.ф.-м.н., с.н.с.

КООПЕРАЦИИ

nfh.jpg (27497 bytes)

ВАЖНОЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЕ ОБОРУДОВАНИЕ И ДИАГНОСТИЧЕСКАЯ АППАРАТУРА

Годы приобретения
1980 г.
Просвечивающий электронный микроскоп (JEM 100CX)
для микро- и наноструктурных исследований.

1983 г.
Комбайны для анализа поверхности и пленок - LAS500, LAS 2000 фирмы Riber (Франция)
.

Применяется в:

  • Оже-спектроскопии (элементный состав)
  • Дифракции медленных электронов (структура поверхности)
  • Рентгенэлектронной спектроскопии (элементный состав, электронная структура)
  • Вторично-ионной масс-спектрометрии (элементный состав).

1986 г.
Рентгенэлектронный спектрометр Cratos (Англия).

Для исследования:

  • элементного состава пленок
  • электронной структуры пленок.

Рентгеновские дифрактометры ДРОН – 3М и URD
для фазового и структурного анализа с автоматизированным выводом данных на компьютер.

1987 г.
Растровый электронный микроскоп JSM 35CF (Япония)
для исследований микро- и наноструктуры поверхности.

1988 г.
Приставка для рентгеноспектрального микроанализа LINK (Англия)
для анализа элементного состава.

1989 г.
Дериватограф Netzsch
для исследования процессов, сопровождающихся выделением либо поглощением тепла.

1989 г., 1996 г.
Печи для отжига Naberthern, Labotherm
на температурный диапазон 1300-1600° С.

1990 г.
Сверхвысоковакуумный растровый микроскоп BS-350 (Чехия).

  • исследования микро- и наноструктуры поверхности с цифровым отображением на компьютере
  • измерения вторичной электронной эмиссии.

Изготовлены в институте

1995 г.
Установки для измерений параметров ВТСП
(4-х зондовый метод на постоянном токе, индуктивный метод на переменном токе, трансформаторный метод) в температурном диапазоне Tкомн – 77 К.

Установка для аэрозольного нанесения пленок ВТСП для спрей-пиролиза химических растворов прекурсоров.

РЕЗУЛЬТАТЫ НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ ЗА ПОСЛЕДНИЕ 5 ЛЕТ

Ю.Я. Томашпольский.
Метод количественного локального анализа содержания кислорода в отдельных участках (зернах) ВТСП керамик и пленок.
- Microscopy and Analysis, 2001, p. 17-23
- Поверхность, 2001, №6, с. 16-26.

Ю.Я. Томашпольский.
Метод локального фазового анализа ВТСП.
- Известия РАН, серия - физическая, 2001, 65, с. 1349-1358.

Ю.Я. Томашпольский, Л.Ф. Рыбакова, Н.В. Садовская, Ю.В. Голикова, С.Г. Прутченко.
Метод синтеза пленок ВТСП путем аэрозольного распыления.
- Неорганические материалы, 2001, 37 - Неорганические материалы, 1999, 35, с. 621-625.

Оптимизация функциональных параметров cверхпроводящих керамик

Е.Д. Политова.
Изучены эффекты катионного и анионного модифицирования состава ВТСП фаз YBa2Cu3O7-d и Bi2Sr2CaCu2Oy.
- Всероссийский химический журнал, 1998, XLII(4), с. 91-100.

Г.М. Калева, К.И. Фуралева, С.Г. Прутченко, Е.Д. Политова.
Установлена стабилизация сверхпроводящих свойств и микроструктуры, определяющая повышение токонесущей способности керамики YBa2Cu3O7-d добавками титаната бария и оксида меди, комплексной добавкой Sc2O3-SrO-V2O5.

Установлена стабилизация ВТСП свойств фазы Bi2Sr2CaCu2Oy добавкой фторида лития.
- Неорг. материалы, 2001, 37(1), с. 81-86
- Неорг. материалы, 1998, 34(7), с. 870-873.

Поиск новых сверхпроводников

К.И. Фуралева, С.Г. Прутченко, А.В. Митин, Е.Д. Политова.
Проведен поиск сверхпроводящих фаз в металлооксидах, близких по составу к границе перехода металл-диэлектрик. Установлены концентрационные границы переходов типа металл-диэлектрик в гетерозамещенной керамике на основе BaPbO3, выявлено формирование локальных сверхпроводящих фаз в модифицированных керамиках.
- Журнал неорганической химии, 1999, 44(9), с. 1550-1554
- Неорганические материалы, 1999, 35(2), с. 192-195.

РАЗРАБОТКИ, ИМЕЮЩИЕ ПРИКЛАДНОЙ ПОТЕНЦИАЛ

Технологии

Технология осаждения пленок ВТСП аэрозольным методом,
позволяющая получать пленки со следующими параметрами:

Купраты иттрия-бария - Тс =94 К, (DELTA)Т=9 К

Купраты висмута-стронция-кальция - Тс=80 К, (DELTA)Т=10 К.

Область применения- микро- и наноэлектроника, сенсорная техника.

Состояние разработки - лабораторная технология.

Патентной защиты не имеет.


Способ изготовления ВТСП металлооксидных пленок
на подложках протяженной длины и сложной геометрии.

Область применения - изготовление покрытий ВТСП большой площади и сложной конфигурации.

Патент №2037915 от 19.06.1995 г.


Измерительные методики и разработанная аппаратура

Метод определения содержания кислорода в оксидных ВТСП.

Чувствительность до 10-5 моль.

Область применения - cинтез ВТСП, эксплуатация изделий.

Патент №2124716 от 10.01.1999 г.


Способ идентификации фаз в высокотемпературных сверхпроводниках.

Локальность анализа ~1 мкм.

Область применения - локальный фазовый анализ ВТСП.

Авторское свидетельство №1609289 от 22.07.1990 г.


Способ определения качества ВТСП.

Относительная чувствительность до 5%.

Область применения - определение дефицита кислорода в ВТСП.

Авторское свидетельство №1702269 от 01.09.1991 г.